XF802-P30厚度表用來測量薄膜，紙張，塑料等薄片材料的厚度。該儀器可以和Testex拓片紙配合使用，測量表面處理后的表面粗糙度。
執行標(biao)準: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5
技術指標：
儀器型號 | XF802-P30 |
測量范圍 | 0-1000 μm |
顯 示 | 1 μm |
儀器尺寸 | 125*95*25 mm |
重 量 | 270 g |
裝 箱 單 | SP300主機(ji), 說(shuo)明(ming)書和合(he)格證(zheng) |
XF802-P30 薄膜/紙張厚度表
2022-04-27 14:42 已有
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分類(lei)防護用(yong)品(pin)
產品薄膜(mo)/紙(zhi)張厚度表
型號XF802-P30
企業北京百萬電子科技有限公司
價格電詢
產地北京
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